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離子遷移（CAF）失效分析

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簡介

CAF失效，即離子遷移失效，電子整機產(chǎn)品中的基板與電子器件之間或線路之間由于存在線間分布電場，會使處于兩極之間某些金屬離子發(fā)生電場作用下的遷移，即陽離子向處在陰極狀態(tài)的部位移動，陰離子會向處于陽極狀態(tài)的部位移動。離子在PCB電路的這種電遷移有著極大危險，輕則引起設(shè)備故障，重則會因引起短路事故而導(dǎo)致火災(zāi)。

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解析案例


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