為了應(yīng)對PCB電子產(chǎn)業(yè)的各種環(huán)境測試，闊智科技建立了可靠性測試中心，引入了各種老化試驗設(shè)備，及實時監(jiān)控設(shè)備，可7x24小時實時監(jiān)控PCB線路板樣品的可靠性，可匹配各種客戶要求。

電子產(chǎn)品,不管是元件,部件,整機,設(shè)備,都要進行老化和測試.老化和測試不是一個概念.先老化后測試.電子產(chǎn)品(所有產(chǎn)品都是這樣)通過生產(chǎn)制造后,形成了完整的產(chǎn)品,已經(jīng)可以發(fā)揮使用價值了,但使用以后發(fā)現(xiàn)會有這樣那樣的毛病,又發(fā)現(xiàn)這些毛病絕大部分發(fā)生開始的幾小時至幾十小時之內(nèi),后來干脆就規(guī)定了電子產(chǎn)品的老化和測試,仿照或者等效產(chǎn)品的使用狀態(tài),這個過程由產(chǎn)品制造者來完成.通過再測試,把有問題的產(chǎn)品留在工廠,沒問題的產(chǎn)品給用戶,以保證買給用戶的產(chǎn)品是可靠的或者是問題較少的.這就是老化測試的意義.

線路板/元器件/電子產(chǎn)品主要老化測試項目：

冷熱沖擊試驗	恒溫恒濕試驗	鹽霧老化試驗	HAST高加速壽命測試

老化試驗的意義與作用

①    驗證批次產(chǎn)品可靠性

②    人工加速老化，快速篩選不良產(chǎn)品

③    依據(jù)試驗結(jié)果，分析不良點位，及不良高發(fā)位置

④    依測試結(jié)果推斷產(chǎn)品生命周期

⑤    驗證線路板、元器件及電子產(chǎn)品設(shè)計結(jié)構(gòu)合理性，優(yōu)化設(shè)計

典型的半導體壽命曲線如下圖。由圖可見，主要故障都出現(xiàn)在器件壽命周期開始和最后的十分之一階段。老化就是加快器件在其壽命前10%部份的運行過程，迫使早期故障在更短的時間內(nèi)出現(xiàn)，通常是幾小時而不用幾月或幾年。不是所有的半導體生產(chǎn)廠商對所有器件都需要進行老化。普通器件制造由于對生產(chǎn)制程比較了解，因此可以預(yù)先掌握藉由統(tǒng)計得出的失效預(yù)計值。如果實際故障率高于預(yù)期值，就需要再作老化，提高實際可靠性以滿足用戶的要求。

測試樣品要求：

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